想測(cè)試電氣是否短開(kāi)路，合民教您！
電氣測(cè)試使用的最基本儀器是東莞ict測(cè)試治具，傳統(tǒng)的在線(xiàn)測(cè)試儀測(cè)量時(shí)使用專(zhuān)門(mén)的針床與已焊接好的線(xiàn)路板上的元器件接觸，并用數(shù)百毫伏電壓和 10毫安以?xún)?nèi)電流進(jìn)行分立隔離測(cè)試，在線(xiàn)測(cè)試通常是生產(chǎn)中第一道測(cè)試工序，能及時(shí)反應(yīng)生產(chǎn)制造狀況，利于工藝改進(jìn)和提升。
東莞ict測(cè)試治具可以精確地測(cè)出所裝電阻、電感、電容、二極管、三極管、可控硅、場(chǎng)效應(yīng)管、集成塊等通用和特殊元器件的漏裝、錯(cuò)裝、參 數(shù)值偏差、焊點(diǎn)連焊、線(xiàn)路板開(kāi)短路等故障，并將故障是哪個(gè)元件或開(kāi)短路位于哪個(gè)點(diǎn)準(zhǔn)確告訴用戶(hù)。
基本的ICT近年來(lái)隨著克服先進(jìn)技術(shù)技術(shù)局限的技術(shù)而改善。例如，當(dāng)集成電路變得太大以至于不可能為相當(dāng)?shù)碾娐犯采w率提供探測(cè)目標(biāo)時(shí)，ASIC工程師開(kāi)發(fā)了邊界掃描技術(shù)。邊界掃描提供一個(gè)工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)方法來(lái)確認(rèn)在不允許探針的地方的元件連接。額外的電路設(shè)計(jì)到IC內(nèi)面，允許元件以簡(jiǎn)單的方式與周?chē)脑ㄐ?，以一個(gè)容易檢查的格式顯示測(cè)試結(jié)果。
另一個(gè)無(wú)矢量技術(shù)將交流(AC)信號(hào)通過(guò)針床施加到測(cè)試中的元件。一個(gè)傳感器板*住測(cè)試中的元件表面壓住，與元件引腳框形成一個(gè)電容，將信號(hào)偶合到傳感器板。沒(méi)有偶合信號(hào)表示焊點(diǎn)開(kāi)路。用于大型復(fù)雜板的測(cè)試程序人工生成很費(fèi)時(shí)費(fèi)力，但自動(dòng)測(cè)試程序產(chǎn)生軟件的出現(xiàn)解決了這一問(wèn)題，該軟件基于PCBA和CAD數(shù)據(jù)和裝配于板上的元件規(guī)格庫(kù)，自動(dòng)地設(shè)計(jì)所要求的夾具和測(cè)試程序。雖然這些技術(shù)有助于縮短簡(jiǎn)單程序的生成時(shí)間，但高節(jié)點(diǎn)數(shù)測(cè)試程序的論證還是費(fèi)時(shí)和具有技術(shù)挑戰(zhàn)性。
那么ICT測(cè)試儀開(kāi)/短路測(cè)試程序的應(yīng)該怎么進(jìn)行調(diào)試呢?
當(dāng)生成開(kāi)/短路測(cè)試數(shù)據(jù)文件后，為穩(wěn)定及保險(xiǎn)起見(jiàn)，請(qǐng)?jiān)陂_(kāi)/短路自學(xué)習(xí)完畢后選擇Test對(duì)本開(kāi)/短路測(cè)試程序進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試時(shí)機(jī)器會(huì)先作開(kāi)路測(cè)試(Open Test),它是在同一鏈上，針號(hào)與針號(hào)作開(kāi)路測(cè)試;后作短路測(cè)試(Short Test)，它是在不同鏈上針號(hào)與針號(hào)作短路測(cè)試。
例： Chain Node 1 1 2 6 12 25 40
2 3 11 19 32
在鏈1作開(kāi)路測(cè)試：1-2、1-6 、1-12、1-25、1-40
在鏈2作開(kāi)路測(cè)試：3-11、3-19、3-32
若鏈1、鏈2通過(guò)開(kāi)路測(cè)試，則用鏈頭(Chain Head)作短路測(cè)試，即：1-3
在開(kāi)路測(cè)試時(shí)，針號(hào)與針號(hào)的電阻若少于開(kāi)路門(mén)檻值(Open Res)，則當(dāng)作短路,此時(shí)開(kāi)路測(cè)試Pass;在短路測(cè)試時(shí)，針號(hào)與針號(hào)的電阻若大于短路門(mén)檻值(Short Res)，則當(dāng)作開(kāi)路,此時(shí)短路測(cè)試Pass。
開(kāi)/短路設(shè)有兩個(gè)門(mén)檻值，主要原因是形成一個(gè)范圍，使組件值的差異不致使有不穩(wěn)定或誤判的情況發(fā)生。
測(cè)試后若程序穩(wěn)定，則屏幕左下角推出“PASS”，請(qǐng)下壓針床壓頭來(lái)回幾次及測(cè)試幾次，以觀(guān)察其是否穩(wěn)定，若出現(xiàn)“FAIL”，則作以下處理：
A、 徹底檢查顯示出的測(cè)試針(針號(hào))是否接觸不良
B、在保證測(cè)試針接觸良好的情況下，若出現(xiàn)測(cè)試時(shí)好時(shí)壞，則查清是否受電感線(xiàn)圈的影響，如果是，則跳過(guò)顯示出的針號(hào)，操作方法：確認(rèn)光標(biāo)在要跳過(guò)的針號(hào)項(xiàng)時(shí)選擇O/S Edit/Mask，這時(shí)針號(hào)項(xiàng)會(huì)變成紅色，表明已跳過(guò)這一針號(hào)。
因電感線(xiàn)圈在瞬間得電時(shí)會(huì)產(chǎn)生感生電壓，可能會(huì)影響開(kāi)/短路的測(cè)試，而使得測(cè)試程序工作不穩(wěn)定。若某幾個(gè)測(cè)試針編號(hào)常出錯(cuò)，而查實(shí)的確為此類(lèi)問(wèn)題，則有必要跳過(guò)這幾個(gè)測(cè)試針的編號(hào)。
被跳過(guò)的測(cè)試點(diǎn)在開(kāi)/短路測(cè)試時(shí)將不考慮該測(cè)試點(diǎn)與其它測(cè)試點(diǎn)的開(kāi)/短路關(guān)系，但并不影響組件的測(cè)試。
東莞ICT測(cè)試治具測(cè)試過(guò)的故障板,因故障定位準(zhǔn)，維修方便，可大幅提高生產(chǎn)效率和減少維修成本。因其測(cè)試項(xiàng)目具體，是現(xiàn)代化大生產(chǎn)品質(zhì)保證的重要測(cè)試手段之一。想了解更多測(cè)試治具資訊，歡迎聯(lián)系我們！
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